使用 r&s®znb 在高速数字信号线路上执行精准测量 -九游官网下载
随着数据率不断提高,高速数字设计及组件的信号完整性变得更具挑战性。尤其在更高的数据率下,矢量网络分析仪 (vna) 逐渐取代传统的时域反射计 (tdr) 装置,可用于测试连接器、电缆、pcb 等无源组件。vna 有助提高准确性、速度以及 esd 可靠性,是这个领域的理想之选。
随着数据率不断提高,高速数字设计及组件的信号完整性变得更具挑战性。尤其在更高的数据率下,矢量网络分析仪 (vna) 逐渐取代传统的时域反射计 (tdr) 装置,可用于测试连接器、电缆、pcb 等无源组件。vna 有助提高准确性、速度以及 esd 可靠性,是这个领域的理想之选。
r&s®znb20 setup to verify the high-speed differential signal lines on a pcb up to 20 ghz
验证 pcb 上的数字高速信号结构或执行其他任务时,必须在特定层进行测量,同时确保不受探头、探头垫、通孔、引入线以及引出线的影响。因此,需要借助精确的去嵌算法计算并消除此类测量影响,确保只保留兴趣区域的测量结果。
以下装置示例展示了验证 pcb 上高达 20 ghz 的高速差分信号路线。该测试装置基于 r&s®znb20 四端口 vna。相应去嵌工具(如 delta-l、delta-l 、packetmicro 智能夹具去嵌 (sfd) 或 ataitec 原位去嵌 (isd))可直接在 r&s®znb20 上运行,无需使用外部电脑。
除了待测量的实际信号迹线之外,pcb 试样通常还包括较短信号迹线以促进去嵌操作。packetmicro 等公司的差分 pcb 探头可用于连接 r&s®znb20 与此类信号迹线。
the steps of the test procedure
为精简测试程序并指导操作员完成测试步骤,通常使用软件自动执行测试。左侧屏幕截图显示测试程序的三个步骤示例:
对于双通(短)结构以及整体(长)结构测量,两个探头的阻抗变化趋势显示在插入损耗结果上方。这样便于快速确定是否需要重新调整探头。
simultaneous display of eye diagrams and measurements in the frequency and time domain
可以使用 r&s®znb-k20 选件进一步分析兴趣区域的眼图。此选件还可用于验证眼图中的加重、噪声、抖动和均衡影响。它还可用于模板测试,并提供合格/不合格检测与统计结果。
r&s®znb 具备所有必要功能,只需使用该仪器,即可测试 pcb 上的数字高速信号结构。还可在该仪器上安装其他去嵌工具,以便消除探头、探头垫、通孔、引入线以及引出线的影响。
订购信息 | |||
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名称 | 数量 | 类型 | 订单号 |
矢量网络分析仪 | |||
矢量网络分析仪,4 端口,100 khz 至 20 ghz,pc 3.5 连接器 | 1 | r&s®znb20 | 1311.6010.64 |
时域分析 | 1 | r&s®znb-k2 | 1316.0156.02 |
扩展时域分析 | 1 | r&s®znb-k20 | 1326.8072.02 |
校准单元或校准套件 | |||
校准单元,10 mhz 至 24 ghz,4 端口,3.5 mm (f) | 1 | r&s®zv-z52 | 1164.0521.30 |
校准单元,50 ω,0 hz 至 24 ghz,3.5 mm (m/f) | 1 | r&s®zv-z235 | 5011.6542.02 |