使用 r&s®rtp 实时去嵌 -九游官网下载
借助集成式硬件和软件九游官网下载的解决方案,让必要的复杂去嵌任务变得简单。
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验证设计的真正性能,同时减少信号路径、探头、电缆、夹具以及其他用于信号测量的附件的影响。
无论是调试 ddr 或 pcie 等高速接口、针对快速时钟进行特性测量,还是分析复杂的射频信号,用户始终希望查看实际信号,而非经过负载或反射等测试装置之后伪信号。消除非理想信号路径效应(衰减、偏移和负载等)的过程称为去嵌。
在示波器中实时消除此类失真时,通常需要借助滤波器响应以补偿信号路径效应。此类滤波器应用于波形以便提高信号质量,例如增加眼图高度、加快上升时间或消除反射。
但是,这种方法存在一些潜在问题:
实时去嵌架构
实时去嵌架构
r&s®rtp 高性能示波器专用于处理此类问题,并提供简单快捷的去嵌九游官网下载的解决方案。各个电路元件以及整体系统响应的多频率响应视图有助于优化带宽,并确保将噪声放大降至最低。
r&s®rtp 直接通过硬件在模数转换器后进行去嵌滤波。即使应用滤波器,也可实时处理波形数据并确保一流的波形捕获率。无论是排查协议错误还是监控眼图,快速响应的测量系统都能确保不会遗漏任何重要细节。
典型信号迹线结构
串联信号迹线去嵌
高速差分接口测试的典型信号迹线结构包括相位匹配的电缆套件、适配器和测试夹具。在模型中,电缆、适配器和其他附件处理成双端口 s 参数,夹具则为双端口或四端口 s 参数。去嵌应用可无缝管理 s 参数串联过程,同时考虑每个模块的输入/输出负载。
卓越的触发功能,快速提供信号完整性结果
去嵌操作的最后步骤是创建滤波器,并将其用于被测信号。对于 r&s®rtp,去嵌滤波器可用于数字触发以及高性能采集系统。这是业内首款去嵌触发方案,可帮助用户精确触发观察到的校正后信号。这种基于硬件的触发方案还可加快关键波形处理,实现更高的眼图更新率,是其他仪器的 1000 倍。
改善眼图余量
设计与测试工程师最常问的一个问题就是:设计的真正性能到底如何?换言之,如何确定测量是否反映出设计的真实性能,测量结果是否受到测试设备负载、连接器反射、电缆损耗或多种其他测试设备损耗的影响。明确测试设备损耗后,可以使用去嵌技术恢复设计余量。可以使用相位匹配的优质电缆,内置补偿程序可以补偿探头负载以及电缆、适配器、夹具甚至示波器前端的回波/插入损耗,从而更加轻松地查看设计的真正性能。
去嵌前的 usb3.0 gen1 眼图(绿色波形)
这两个屏幕截图显示了使用短电缆(黄色波形)和长电缆(绿色波形)测量的高速信号。在此示例中,短电缆响应是一个理想参考;长电缆则进行去嵌,并与短电缆响应进行对比。请注意,改善眼图余量可以恢复因电缆损耗而损失的大部分设计余量。
去嵌后的 usb3.0 gen1 眼图(绿色波形)
射频信号分析
射频设计人员不断面临各种设计挑战,需要在更高频率和带宽下使用愈加复杂的调制技术。信号路径中的每个元件都会影响整体射频测量性能。电缆、耦合器、衰减器和其他附件会引起非理想信号路径效应,例如失真、回波损耗和相位误差。
通常,长迹线的频率相关衰减是产生信噪比问题的主要原因之一。即使是固定衰减器等简单元件也会增加失真,导致信号恶化超出预期。可以使用去嵌技术轻松补偿衰减器、电缆和 pcb 迹线。
去嵌信号的串行触发和解码
如要查找出现设计问题的根本原因,通常需要先行重现问题,然后通过触发隔离该问题。高速协议触发和解码是用于关联电气与协议层活动的必需工具。可以通过去嵌等技术改善整体信号质量,以便确保示波器协议解码器的可靠性。
提升触发可靠性的关键在于增加信号幅度并改善整体信令特性,确保触发和解码系统的比特与符号检测更加容易。传统示波器架构包括一个触发传感器,这意味着显示的去嵌信号(经软件校正)与触发电路查看到的原始信号不相匹配。使用 r&s®rtp 时,触发和采集系统共享同样的信号路径,因此所查看的信号与触发信号完全相同。这可以确保触发更加可靠,即使对于复杂的串行总线也是如此。
例如,在信道远端探测到 usb3.0 gen1 信号,并且由于机械限制,该处信号损耗较大却无法避免。在这种情况下,仍可以解码协议活动,但由于迟滞或电平差异,部分数据可能会损坏或不同步。
应用部分或全部信道损耗补偿时,串行解码更加可靠且一致。
去嵌后的 usb3.0 gen1
去嵌后的 usb3.0 gen1
ddr3 眼图
优化 ddr 接口测试
去嵌技术还可轻松应对其他信号完整性挑战,例如消除反射;在验证 ddr 存储器系统时,通常会通过邻近通孔、引脚或其他接入点直接探测信号。使用组件插补器可以更加轻松地接入信号,同时显示从球栅阵列 (bga) 触点发出的相关信号。对插补器进行去嵌后,可以消除因阻抗失配引起的夹具信号衰减和反射。