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高通波束特性测量和波束验证
高通波束特性测量和波束验证 测量和优化天线阵列中各元件的特性，以测定高通 5g 毫米波调制解调器 sdx50 和 sdx55 的波束成形性能。 波束特性测量和验证, 高通 5g 毫米波, sdx50, sdx55, 毫米波范围的 5g 技术, r&s®ats1800c 暗箱, cmp200 通信测试仪 测量和优化天线阵列中各元件的特性，以测定高通 5g 毫米波调制解调器 sdx50 和 sdx55 的波束成形性能。 您的任务 毫米波范围的 5g 技术能实现显著更高的数据率。但是，高频信号传输产生路径损耗。因此，波束成形技术极为关键，以便提高信号增益，进而补偿路径损耗。 在波束成形技术中，各个天线元件的相位和幅度相互关，以形成理想的波束。因此，针对每个天线元件进行特性测量和验证，对于整体的波束成形性能至关重要。 由于大量因素会影响波束成形性能，因此通常会在新用户设备 (ue) 的开发期间进行特性测量和验证